INFLUÊNCIA DA ESPESSURA DE FILMES FINOS DE ALUMÍNIO NA ATENUAÇÃO DA ENERGIA DA ONDA ELETROMAGNÉTICA NA FAIXA DE MICROONDAS (8 – 12GHZ)

Resumo

Filmes finos de alumínio foram depositados sobre substratos de poli(tereftalato de etileno)(PET) por meio de um sistema do tipo Triodo Magnetron Sputtering (TMS). Foi observado que o conjunto filme/substrato é capaz de atenuar a energia da onda eletromagnética incidente na faixa de freqüências de 8 – 12 GHz. Os resultados obtidos mostram que filmes finos apresentam-se eficientes como materiais absorvedores de radiação eletromagnética (MARE). Resultados de refletividade em equipamento de guia de onda mostram que a atenuação da energia apresentada pelos filmes finos depende da espessura dos mesmos. Filmes com espessuras da ordem de 65 a 200nm apresentam atenuação da energia da onda eletromagnética de 60 a 90% em diferentes freqüências. Análises por microscopia de força atômica (AFM) e espectrometria por espalhamento de Rutherford (RBS) foram realizadas com o intuito de avaliar propriedades como espessura, composição química e morfologia dos recobrimentos.