This article presents a technique to estimate, nondestructively, the thickness, porosity and refractive index of porous silicon samples. The technique is based on the Fabry-Pérot interference spectrum analyzed by the Reflectometric Interference Fourier Transform Spectroscopy (RIFTS). The technique, also known as SLIM - Spectroscopic Liquid Infiltration Method (Segal 2007) takes into account the infiltration of a liquid with known refractive index inside the pores of the samples.
Biografia do Autor
Tiago Franca Paes, Universidade Federal da Bahia
Professor adjunto do Departamento de Física Geral do Instituto de Física
Antonio Fernando Beloto, Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais
Pesquisador do Grupo de Dispositivos Fotovoltaicos do Laboratório Associado de Sensores e Materiais
Ellen Christine de Souza Galvão, Instituto de Ciência e Tecnologia (ICT), UNIFESP
Bolsista estágio do Grupo de Dispositivos Fotovoltaicos do Laboratório Associado de Sensores e Materiais
Luiz Angelo Berni, Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais
Pesquisador do Grupo de Dispositivos Fotovoltaicos do Laboratório Associado de Sensores e Materiais
