PERDA DE ENERGIA DE ÍONS RÁPIDOS DE He EM Si SOB REGIME DE CANALIZAÇÃO

Autores

  • M. Barbatti
  • N. V. C. Faria
  • R. J. Donangelo
  • J. C. Acquadro

DOI:

https://doi.org/10.17563/rbav.v17i2.259

Resumo

Medimos a perda de energia por unidade de comprimento, na canalização de íons de He a 2.0 MeV em Si cristalino, numa varredura angular do plano {001}, entre o canal axial [100] e o [110], detalhando a passagem do plano ao eixo. A perda mostrou-se coerente com dados da literatura e a medida da abertura angular dos canais axiais feita por retroespalhamento. Este efeito é discutido a partir do modelo fenomenológico de Lindhard-Jin-Gibson (LJG).

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Publicado

2008-06-05

Edição

Seção

Artigos