Medimos a dependência da resistência com a temperatura em Resistores de Filme Fino de NiCr (RFF), na faixa de -60°C a +210ºC. O modelamento dos RFF nesta faixa de temperatura é de grande importância para a tecnologia híbrida de micro-eletrônica, assim como para o modelamento teórico do transporte de elétrons nos metais em altas temperaturas. Os dados experimentais foram comparados aos processos bem conhecidos de condução, visando a modelagem do comportamento térmico não-linear observado nestes dispositivos.
