É apresentada uma técnica não destrutiva de medição de espessura de filmes finos que utiliza radiação beta retroespelhada. Foram realizadas medidas de espessura de folhas finas de alumínio na faixa de 200 a 500um utilizando radiaçãobeta (fonte de 137Cs) retroespelhada por cerâmica de UO2-Al2O3,com o intuito de calibrar o equipamento e determinar a precisão atingível pelo método. Dentro da faixa de espessura utilizada, os resultados mostram que as medidas podem ser efetuadas com uma precisão de10%.
