Aplicando o método da curvas envoltórias, desenvolvido por Manifacier e Swanepoel, para a determinação de constantes ópticas em filmes finos, caracterizamos os materiais dielétricos de evaporação com interesse na fabrineção de filtrose ópticos interferenciais.
Através de medidas espectrofotométricas da transmitância de monocamada depositada em substrato de índice de refreção conhecido, o método possibilita a detereminação das constantes ópticas do material depositado: índice de refração e espessura do filme.
