MEDIDAS DE ESPESSURA E ÍNDICE DE REFRAÇÃO EM FILMES DE MATERIAL FOTOSSENSÍVEL

Autores

  • C. A. S. de Oliveira
  • S. A. A. Nobre

DOI:

https://doi.org/10.17563/rbav.v4i1-2.841

Resumo

Neste trabalho apresentamos medidas de espessura eíndece de refração de filmes finos obtidos com Micro-Resist 747, da Kodak. Os filmes foram depositados por centrifugação. O método utilizado permitiu a obtenção da curva: espessura do filme versus velocidade de rotação da centrifugadora. A curva obtida foi comparada com a fornecida pelo fabricante do material fotossensível.

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