Apresentamos o projeto de um monitor de espessura e taxa dedeposição, construído a partir de componentes facilmente encontrados no mercado nacional. O monitor é constituído basicamente porum oscilador local acristal de quartzo, montado no interior da campânula do evaporador, e por um oscilador externo. A massa depositada sobre o cristal acarreta uma variação na sua frequência de oscilação. A variação defrequência em relação ao oscilador externo é traduzida em informações de espessura e taxa de deposição.
