FABRICAÇÃO DE DISPOSITIVO OPTOELETRÔNICO PARA O INFRAVERMELHO TERMAL POR EPITAXIA DE PAREDES

Autores

  • C. Boschetti
  • S. P. da Cunha
  • I. N. Bandeira

DOI:

https://doi.org/10.17563/rbav.v5i1-2.904

Resumo

Semicondutores de bandas proibidas estreitas dos grupos IV-VI e II-VI são muito importantes em optoeletrônica, principalmente para detetores e lasers semicondutores no infravermelho. O desenvolvimento destes semicondutores é estimulado por aplicações na detecção e emissão de radiação infravermelha, tais como: sensores de radiação térmica, comunicaçãoporlaser, radares de lasers, espectroscopia de alta resolução, controle de atitude de satélites, monitoração de poluição. Neste trabalho é descrita a técnica de epitaxia por vapor termicamente colimado - "Hot Wall Epitaxy" (HWE) - bem como a construção de um sistema de HWE, pelo crescimento de multicamadas, com ênfase no composto Pb1-xSnxTe, levando em consideração quea mesma técninca é também utilizada, entre outros paraZnS, ZnSe, CdS, CdSe, PbS e PbTe.

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