FOTOLUMINESCÊNCIA E TRAÇOS DE IMPUREZA EM FILMES FINOS DE CdS

Autores

  • R. G. Dhere
  • N. G. Dhere
  • B. K. Patnaik
  • G. B. Baptista
  • C. V. B. Leite
  • L. L. Kazmerski

DOI:

https://doi.org/10.17563/rbav.v5i1-2.907

Resumo

Filmes finos de sulfeto de cádmio são utilizados em células solares de CdS-Cu2S. A camada de sulfeto cuproso é crescida topotaxialmente. Por isso, a eficiência da célula solar está intimamente ligada à qualidade do CdS. O trabalho descreve as analises de filmes finos de CdS, depositados a vácuopelo método de parede quente, por espectroscopia de fotoluminescência e de elétrosn de Auger e por espectroscopia de raios-x, induzidos por protóns, num acelerado Ven de Graaff, e por elétrons, numa microsonda. Enquanto os espectros de fotoluminescência dos filmes finos de CdS depositados sobre substratos de vidro ou cerâmica demostraram principalmente os picos característicos das transições dos elétrons entre a banda de valência e a banda de condução,mostrando sua boa qualidade, os espectros dos filmes de CdS depositados sobre substratos metalizados com Cr-Ag mostraram a presença de novos níveis de energia na banda proibida do CdS. Observou-se uma pequena difusão de prata na proximidade do contato traseiro, não sendo detectados traços de prata, cromo ou alguma outra impureza na camada próxima a superfície. Isto indica a qualidade adequada dos filmes para a fabricação de células solares.

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