Beloto, Antonio Fernando

• Revista Brasileira de Aplicações de Vácuo v. 35 n. 3 (2016) - Superfícies e Filmes Finos
  Simple method for measuring the porosity, thickness and refractive index of porous silicon, based on the Fabry-Pérot interference spectrum
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• Revista Brasileira de Aplicações de Vácuo v. 34 n. 2 (2015) - Ciência e Tecnologia de Materiais
  Behavior of porous silicon crystallite size analized by Raman spectroscopy and phonon confinement model
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• Revista Brasileira de Aplicações de Vácuo v. 34 n. 3 (2015) - Artigos
  Morphological evolution of the porous silicon surface for different etching time and current density in hf-ethanol solution
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