Galvão, Ellen Christine de Souza, Instituto de Ciência e Tecnologia (ICT), UNIFESP, Brasil

• Revista Brasileira de Aplicações de Vácuo v. 35 n. 3 (2016) - Superfícies e Filmes Finos
  Simple method for measuring the porosity, thickness and refractive index of porous silicon, based on the Fabry-Pérot interference spectrum
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